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　　手持式XRF分析儀攜帶方便，樣品處理簡(jiǎn)單，并且可以快速獲得檢測(cè)結(jié)果。對(duì)于XRF分析儀*常見的應(yīng)用之一，合金鑒別，使用我們的Vanta™ XRF分析儀只需要1-2秒時(shí)間就可識(shí)別合金號(hào)。

　　手持式XRF分析儀能夠定量分析元素周期表上從鎂到重元素等超過(guò)90%的元素，覆蓋了常用商品合金所含有的絕大多數(shù)元素。圖1為常見合金元素的1檢測(cè)限。XRF分析儀能夠?qū)︿X合金、不銹鋼、鉻鉬合金、金屬管道和法蘭材料，黃銅、青銅以及其他銅合金，金屬焊料、鈦合金、工具鋼、鎳基或鈷基等“超級(jí)合金”進(jìn)行材料牌號(hào)匹配和元素定量分析。

　　手持式XRF分析儀無(wú)法直接測(cè)量比鎂輕的元素。其中包括諸如鋰、鈹和碳等元素。這些元素與很多應(yīng)用有關(guān)，比如：

　　但許多此類合金的牌號(hào)仍然可以根據(jù)其他合金元素的組分進(jìn)行鑒別。如果需要定量分析這些輕元素，那就需要使用其他分析方法了。

　　XRF分析儀的工作原理可以概述如下：(1) 發(fā)射X射線，激發(fā)樣品產(chǎn)生熒光; (2) 探測(cè)器接收X射線熒光; (3) 利用復(fù)雜的運(yùn)算對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理; (4) 牌號(hào)識(shí)別 (圖2)。XRF是一種表面檢測(cè)技術(shù)。對(duì)于諸如鋁制類的輕合金，XRF分析儀只能對(duì)試樣表面深度幾百微米進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于鑄鐵或銅等主要金屬，XRF分析儀對(duì)試樣的測(cè)量深度小于一百微米。而對(duì)于金或鉛等致密材料，其僅能測(cè)量表面的數(shù)十微米。這就意味著材料表面準(zhǔn)確體現(xiàn)總體成分這一點(diǎn)非常關(guān)鍵。諸如油漆、密封材料和鍍層以及表面污染等可能會(huì)對(duì)分析造成極大影響。與此類似，噴砂或拋丸、研磨、甚至粉塵的殘留物均可能影響材料可靠性鑒別。因此在使用XRF分析儀進(jìn)行檢測(cè)之前務(wù)必對(duì)試樣進(jìn)行清潔。

　　手持式XRF分析儀采用低功率X射線管。由于發(fā)射和接收的X射線功率較低，將分析儀貼近試樣就非常重要。理想情況下，試樣應(yīng)當(dāng)與儀器窗口面直接接觸。如果試樣具有復(fù)雜的幾何形狀那么就會(huì)存在很大難度，但Vanta分析儀的狹窄輪廓外形能夠讓儀器充分貼近諸如以90度角的卷邊焊縫材料。

　　XRF的X射線物理特性基本上不會(huì)受試樣溫度變化的影響。此外，Vanta XRF分析儀性能可靠，不會(huì)受到環(huán)境條件變化的影響。該儀器在-10°C和50°C(14–122°F)2之間的工作溫度范圍使用時(shí)不會(huì)發(fā)生溫度漂移或性能降低。

　　Vanta分析儀可測(cè)量溫度可達(dá)100°C (212°F)的試樣。高于上述溫度時(shí)，儀器檢測(cè)窗上的聚丙烯薄膜可能會(huì)受到損壞。儀景通可為高溫檢測(cè)提供替用的面板。該面板包括能夠測(cè)量溫度高達(dá)315°C (600°F)試樣的Kapton檢測(cè)窗。

　　X射線熒光光譜法是一種功能強(qiáng)大的元素定量分析方法。利用分析能力和簡(jiǎn)便易用性能夠快速可靠地進(jìn)行材料可靠性鑒別（PMI）。其不但可以幫助避免生產(chǎn)損失，更重要的是還可以避免因使用錯(cuò)誤材質(zhì)造成的人身傷亡事故。想要了解更多儀景通（原伊諾斯）X射線熒光分析儀（XRF）儀器可以即時(shí)致電贏洲科技（上海）有限公司18202125770。